РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПЕРВИЧНОГО АЛЮМИНИЯ, РАФИНИРОВАННОГО БОРНОЙ КИСЛОТОЙ - TU

РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПЕРВИЧНОГО АЛЮМИНИЯ, РАФИНИРОВАННОГО БОРНОЙ КИСЛОТОЙ

Abstract

В работе методом растровой электронной микроскопии исследованы образцы алюминия-сырца, полученные с применением комплексной технологии рафинирования флюсовым рафинированием борной кислотой (H3BO3) в ковше с дальнейшей фильтрацией. В последние годы наметилась тенденция вовлечения в производство менее качественных источников сырья для производства анодов, что приводит к увеличению примесей в алюминии. В основном это связано с добычей тяжелой нефти (в состав которой входят соединения асфальтенов). В асфальтенах концентрируются примеси металлов (Fe, Si, V, Ni и др.), которые при коксовании переходят в кокс, а затем и в алюминий. Нежелательной примесью в первичном алюминии является ванадий, снижающий при концентрации около 2 ppm электропроводность металла. Авторами работы были проведены экспериментальные исследования по фильтрационному рафинированию расплава алюминия после флюсовой обработки борной кислотой (H3BO3). Детальные исследования на растровом электронном микроскопе фирмы JEOL с системой микроанализа INCA Energy показали снижение содержания примесей ванадия в процессе флюсового рафинирования борной кислотой и дальнейшей фильтрации через зерновой фильтр.

Keywords

алюминий; металлические примеси; переработка; ванадий; сканирующая электронная микроскопия; металлургия; фильтрация; цветная металлургия; флюс; очищение.

Your browser does not support PDFs. Download it instead.

publication date:2026-07-23
article views:0