Представлена реализация алгоритмов тестового метода повышения точности измерений неэлектрических величин в двух- и многоканальных измерительных системах. Алгоритмы основаны на использовании адди-тивных тестов.

измерительная система, измерительное устройство, канал измерения, статическая функция преобразования, неинформативные факторы, математическая модель измерительного устройства, погрешность измерения, неэлектрические величины, дифференциальный метод измерения, вычис-лительное устройство, аддитивный тест, мультипликативный тест